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高性能X射線熒光分析儀的功能優(yōu)點(diǎn)你知道嗎?

2022-12-15 [638]
  高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無(wú)機(jī)分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用,是各種無(wú)機(jī)材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一,各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù),如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等,在痕量和超痕量分析中發(fā)揮著重要的作用。
  高性能X射線熒光分析儀的功能:
  XRF是基于X射線的一種分析手段,當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí),如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能,將該軌道電子逐出,形成一個(gè)空穴使原子處于激發(fā)態(tài),由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定,外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài),躍遷時(shí)釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。X熒光具有特征的波長(zhǎng),對(duì)應(yīng)的即是特征的能量,通過(guò)對(duì)光子的特征波長(zhǎng)進(jìn)行辨識(shí),XRF能實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的定性分析,通過(guò)探測(cè)特征波長(zhǎng)的X射線光子的強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。
  高性能X射線熒光分析儀具有以下優(yōu)點(diǎn):
  a)分析速度高。測(cè)定用的時(shí)間與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
  b)X射線熒光光譜儀跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。
  c)非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
  d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
  e)分析精密度高。
  f)制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。